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Seminario Lauterbach
 

CAPEL le invita al seminario gratuito "Desarrollo de aplicaciones Arm con Lauterbach TRACE32".

Durante el seminario veremos en profundidad toda la información que podemos extraer de nuestras aplicaciones con las herramientas de depuración hardware de Lauterbach. De este modo veremos como depurar sistemas heterogéneos, extraer los distintos tipos de traza, realizar análisis post-mortem y boundary scan. Además, veremos cómo obtener medidas de potencia y cómo hacer el Code Coverage, necesario a la hora de certificar nuestro software.

Todo ello lo aplicaremos sobre dos ejemplos, el primero de ellos basado en un STM32F407 (Cortex-M4) y el segundo sobre la tarjeta i.MX7 96 Board (Cortex-A7+Cortex-M4).

Fecha: 26/04/2018
Horario: 8:45h a 14:00h
Lugar: UAM- Escuela Polit. Superior – Cantoblanco (Madrid). https://goo.gl/maps/qkkTkkfhACL2

 

Registro

Agenda: 

8:45 Registro de asistentes

9:00 Presentación CAPEL

Herramientas de desarrollo SW

TRACE32: Visión General

Grabación de memorias

Depuración hardware

baremetal

baremetal - RTOS awareness

11:30 Descanso para un café

Traza de datos e instrucciones

Depuración Linux

Certificación

Code Coverage

Boundary Scan

14:00 Sesión abierta: Ruegos y Preguntas

 

 

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